Microscopia elettronica in scansione SEM per metallurgisti



Milano - Lecco 03/07/2017


Corso di base

Microscopia elettronica in scansione SEM per metallurgisti

Milano, 3 luglio – Lecco, 4 luglio 2017

Organizzata dal Centro di Studio

Metallurgia Fisica e Scienza dei Materiali

della Associazione Italiana di Metallurgia           

 

Presentazione

La microscopia elettronica in scansione rappresenta una delle principali tecniche di indagine micro- e nano-strutturale in ambito metallurgico. Gli aspetti fondamentali del Microscopio Elettronico a Scansione (SEM) che ne hanno favorito la diffusione, sono la facilità di utilizzo e l’ampia gamma d’informazioni che da esso si possono trarre. Con il SEM è, infatti, possibile indagare non solo la morfologia nella micro- e nano-scala di superfici di campioni massivi, ma anche valutarne la composizione e la struttura cristallografica, in virtù delle molteplici tecniche microanalitiche che ad esso possono essere associate, quali la spettroscopia a dispersione di energia e di lunghezza d’onda (EDS e WDS) e diffrazione da elettroni retrodiffusi (EBSD). Inoltre l’evoluzione tecnologica ha ampliato la gamma delle soluzioni operative, rendendo possibile l’osservazione anche in trasmissione (STEM) dei materiali per rivelare la struttura interna, o l’osservazione di campioni anche non conduttivi a pressioni prossime a quelle ambiente (Enviromental-SEM). Tuttavia, le potenzialità di un SEM possono non essere sfruttate pienamente, qualora non si abbia una adeguata conoscenza della struttura del SEM, risultando in un mancato allineamento dello strumento, e della fisica dell’interazione degli elettroni con la materia e delle tecniche di acquisizione dei vari segnali, causando una mancata ottimizzazione dei parametri di osservazione. Infine, ma non secondario, la preparativa dei campioni deve essere appropriata per non limitare l’indagine ed ottenere informazioni attendibili. Con questa iniziativa, alla sua prima edizione, il Comitato Tecnico di Metallurgia Fisica e Scienza dei Materiali dell’AIM organizza un corso in cui si forniscano ai partecipanti le basi teoriche e pratiche di un corretto utilizzo del SEM, ed l’introduzione alle molteplici tecniche di analisi che su di esso si basano. L’iniziativa si rivolge a operatori SEM del mondo industriale e della ricerca, che vogliono affrontare la microscopia elettronica in scansione con maggior consapevolezza, sia perché utilizzatori diretti, sia perché fruitori della tecnica. Il corso si svolgerà in due giornate consecutive presso le sedi di Milano e Lecco dell’Istituto ICMATE. Nelle due giornate verranno affrontati gli aspetti teorici dello strumento e delle varie tecniche di analisi, e applicazioni pratiche a casi studio affrontati con differenti tipologie di strumenti.

Coordinatori del corso: Dott. Giuliano Angella e Ing. Paola Bassani.



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