Microscopia elettronica applicata alla failure analysis



Pozzo d'Adda (MI) 11/10/2019


MICROSCOPIA ELETTRONICA APPLICATA ALLA FAILURE ANALYSIS

Giornata di Studio organizzata dal Centro di Studio AIM Controllo e Caratterizzazione dei Prodotti

Data: 11 ottobre 2019
Sede: Pozzo d'Adda c/o S.M.T. Srl

Il microscopio elettronico a scansione è uno strumento ormai molto diffuso e sempre più alla portata dei tecnci che si occupano di test sui materiali. Il suo successo è dovuto alla vastità di applicazioni possibili e alle numerose informazioni che può offrire, sia di tipo morfologico che chimico.
La giornata di studio nasce dall’esigenza di condividere e diffondere l’esperienza e la conoscenza delle applicazioni di questa tecnica in ambito metallurgico e in particolare alla failure analysis, per permettere agli operatori un utilizzo consapevole e ragionato di questo strumento. La tecnica SEM è ormai essenziale nell’ambito della Failure Analysis e viene utilizzata come base di partenza per la pianificazione di ulteriori indagini di tipo chimico fisico.
La giornata di studio è indirizzata a tutti coloro abbiano già acquisito le nozioni di base della microscopia elettronica a scansione e siano interessati ad approfondire le applicazioni pratiche. Il programma della giornata parte da un’introduzione in cui verra esposta la differenza fra luce ed elettroni, ossia fra microscopia ottica ed elettronica e si svilupperà poi attraverso l’esposizione di casi di applicazione di microscopia SEM e microanalisi EDS alla failure analysis, anche in accoppiamento con altre tecniche, fino a concludersi con un test pratico presso il laboratorio.  

Coordinatore della Giornata:
Giantonio Toldo - Element

SONO APERTE LE ISCRIZIONI


Per informazioni:
Segreteria AIM
tel. + 39 02 76021132
info@aimnet.it



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